Αριθμός μέρους κατασκευαστή : | SN74BCT8244ADWE4 | Κατάσταση RoHs : | Ο μόλυβδος ελεύθερος / συμβατός με RoHS |
---|---|---|---|
Κατασκευαστής / Μάρκα : | Luminary Micro / Texas Instruments | Κατάσταση αποθεμάτων : | 2576 pcs Stock |
Περιγραφή : | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | Πλοίο από : | Χονγκ Κονγκ |
Φύλλα δεδομένων : | Τρόπος αποστολής : | DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS |
Αρ. | SN74BCT8244ADWE4 |
---|---|
Κατασκευαστής | |
Περιγραφή | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
Κατάσταση χωρίς μόλυβδο / κατάσταση RoHS | Ο μόλυβδος ελεύθερος / συμβατός με RoHS |
Διαθέσιμη ποσότητα | 2576 pcs |
Φύλλα δεδομένων | |
Τάση τροφοδοσίας | 4.5 V ~ 5.5 V |
Συσκευασία της συσκευής με τον προμηθευτή | 24-SOIC |
Σειρά | 74BCT |
Συσκευασία | Tube |
Συσκευασία / υπόθεση | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
Θερμοκρασία λειτουργίας | 0°C ~ 70°C |
Αριθμός Bits | 8 |
τοποθέτηση Τύπος | Surface Mount |
Επίπεδο Ευαισθησίας Υγρασίας (MSL) | 1 (Unlimited) |
Κατασκευαστής Standard Lead Time | 6 Weeks |
λογική Τύπος | Scan Test Device with Buffers |
Κατάσταση χωρίς μόλυβδο / κατάσταση RoHS | Lead free / RoHS Compliant |
Λεπτομερής περιγραφή | Scan Test Device with Buffers IC 24-SOIC |
Αριθμός μέρους βάσης | 74BCT8244 |
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC